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測磁感鐵損測量儀ATS-200M

   測磁感鐵損測量儀ATS-200M適用于測量冷軋取向、無取向和熱軋硅鋼片的鐵損和磁感，樣品尺寸輸入方式可選厚度模式或重量模式，測試結果不含銅損，是真正的鐵損測量，保持磁通正弦，有效消除諧波影響，選配ATSView測量軟件，功能更強大。

【的技術指標】

  ● 工作電壓：AC 220V±10% 50Hz/60Hz，保險：250V1A

  ● 顯示方式：3.5寸明亮液晶顯示

• 測試頻率：50Hz、60Hz自由選擇
• 測量模式：定B測Ps和定H測Bm兩種測量模式
• 磁感設定范圍：Bm1：500～1900mT，Bm2：500～1900mT，

Bm3：500～1900mT，

• 磁場設定范圍： Hm1：100～9999A/m，Hm2：100～9999A/m，

Hm3：100～9999A/m

• 厚度設定范圍：0.10～0.50mm
• 硅鋼片尺寸要求：簡易探頭≥ 50mm×50mm，表面平整

                   標準探頭30mm×100mm

• 測試重復性：±1%(恒溫環境同一條件下)
• 測試準確度：鐵損(Ps)3%（按方圈樣品折算到方圈的結果）

              磁感(Bm) 2%

• 顯示刷新率：3次/秒
• 使用環境：溫度-10°C～40°C，濕度：35～75%
• 外形尺寸及重量：235×90×330mm(寬×高×深)，4.5kg

【的簡易探頭使用說明】

1、接線、開機：

A、將電源線和測試探頭連線分別按插孔位置連接好；

B、將后面板上的電源開關打開，上電后，儀器進行自檢，當液晶屏顯示測試界面后(如圖1所示)，表示儀器檢測到簡易探頭，開始進入測試狀態；

C、將儀器上電后，預熱3分鐘后再測試樣品。

主要特點：
　　該儀器參照國標GB/T13789-92中的測量方法，采用單片機控制技術和A/D、D/A相結合，內置正弦波勵磁電源，直接顯示鐵損Ps值（W/kg），磁場Hm值（A/m）或磁感Bm值（T）。
　　通過選配測量軟件，組成硅鋼片自動測量儀，可自動測量硅鋼片的Ps(B)損耗曲線、Ps(H)損耗曲線和B(H)磁化曲線。

    ATS-200M硅鋼片鐵損測量儀（簡稱鐵損儀）適合電機、變壓器生產廠家，在原料采購或生產現場，用于快速檢測硅鋼片的品質，也可對chong壓后的硅鋼片進行品質檢測。

　　該儀器參照國標GB/T13789-92中的測量方法，采用單片機控制技術和A/D、D/A相結合，內置正弦波勵磁電源，直接顯示鐵損Ps值（W/kg），磁場Hm值（A/m）或磁感Bm值（T）。
　　通過選配測量軟件，組成硅鋼片自動測量儀，可自動測量硅鋼片的Ps(B)損耗曲線、Ps(H)損耗曲線和B(H)磁化曲線。ATSView測量軟件運行于Windows 7 操作系統下，符合Windows軟件規范，操作直觀簡捷。

軟件功能：
　　ATSView主要有三種功能：測試功能、文件操作和打印輸出。
　　可選擇定B（鎖定磁感）或定H（鎖定磁場）測量，滿足多種測試要求。
　　全自動控制，智能化判斷，整個測試過程無需用戶干預。
　　測試過程實時監控采樣波形和儀器狀態，并可隨時中止。
　　根據樣品的外形尺寸計算樣品的有效截面積和有效磁路長度。
　　文件系統采用數據庫格式，可直接打印或輸出測試結果到Excel表格中。
　　文件管理功能強大：具有保存數據，刪除數據，清除全部數據等功能。
　　數據文件包含完整的采樣數據、樣品參數、儀器參數和測試方案，文件采用文本格式，可方便地輸入到其它軟件中。
　　顯示I(t)、U(t)、B(t)采樣波形和B(H)磁滯回線，并可顯示曲線上每一個數據點的坐標信息。
　　進行多點組簇后，可顯示B(H)磁滯回線簇、B(H)磁化曲線、μa(H)磁導率曲線和Ps(B)損耗曲線，并可顯示曲線上每一個數據點的坐標信息。
　　可將不同條件下測得的B(H)磁化曲線和Ps(B)損耗曲線組合到一張圖紙上，以便進行對比分析。
　　按μa、Ps、Bm、Br、Hc和Hm等參數設定上下限，對測試結果進行合格判定，通過數據表格的顏色來確定。
　　支持各種型號的打印機，測試報告與打印機紙張精確匹配。
　　具有打印預覽的功能，可方便地調整測試報告的大小和邊距。
　　可直接打印測試報告，或將測試報告生成JPG圖片文件。
　　可直接通過發送JPG圖片文件，或將JPG圖片文件保存到磁盤。
　　測試報告包含完整的曲線圖、測試結果、測試條件和樣品參數。可采用中、英文格式，可方便添加用戶標志和企業名稱。
　　有多種單位制式可供選擇，以保證不同用戶各自的使用習慣。

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A、將電源線和測試探頭連線分別按插孔位置連接好；

B、將后面板上的電源開關打開，上電后，儀器進行自檢，當液晶屏顯示測試界面后(如圖1所示)，表示儀器檢測到簡易探頭，開始進入測試狀態；

C、將儀器上電后，預熱3分鐘后再測試樣品。